手机版 |
产品分类 |
其他
Navigator®數位式阻抗匹配器
Ovation VHF電源系統
Integro™微波產生器
HILIGHT™微波產生器(13.56MHz,600W)
CESAR® RF產生器
HFV®變頻(~2 MHz)電源
Apex® RF電源系統
Paramount®射頻功率輸送系統
Crystal®
LFGS微波產生器
半导体行业专用仪器
玻璃基板曝光设备
Tanehashi光罩盒
辛耘分子泵检修服务
Verity EPD光谱仪
Semilab SSM汞探针CV测试设备
Semilab SDI體內少數載流子擴散長及CV電性检测设备
Rave光罩雾化污染去除系统Rhazer及先进光罩修复系统nm450
TMC防震和减震系统
Seminet光罩检查及存储设备
Revera量测设备
测量/计量仪器
KLA台阶仪D500
Dark Field薄膜太阳能电池检测系统
KLA-Tencor Candela CS光学表面分析仪
SDI金属污染及少数载流子寿命检测仪
光学仪器及设备
KLA共聚焦显微镜Zeta20
Xradia高分辨率三维X射线显微镜
Semilab–Sopra椭偏仪
KLA-Tencor INM100显微镜
清洗/消毒设备
Local Scrubber
E-Square常压电浆清洗设备
辛耘清洗蚀刻设备
制样/消解设备
USHIO投影式全自动光刻设备
USHIO自动光刻设备
Ushio手动光刻机
测厚仪
KLA Filmetrics F20
燃烧测定仪
Rehm烧结炉
比表面积测定仪
KLA纳米压痕仪iNano
无损检测/无损探伤仪器
KSI超声波扫描(SAM)
联系方式 |
产品系列
产品描述
应用:
Material Science
Semiconductor—Ingots/Wafer/Packaging/PCBs/LEDs/Sensor/Other MEMS
Aerospace
Automotive
Pharma & Biotech
技术参数:
德国KSI提供了**的第二代超声波扫描(SAM), 拥有强大的设计应用团队,在超声波领域超过20年的经验。
其设备主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析。其可以检查到材料内部的晶格结构,杂质颗粒,
夹杂物,沉淀物, 内部裂纹,分层缺陷,空洞,气泡及空隙等.
主要特点:
非破坏性、无损伤检测内部结构;
可分层扫描、多层扫描;
实施、直观的图像及分析;
缺陷的测量及百分比的计算;
可显示材料内部的三维图像;
对人体是没有伤害的;
可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等)